刘攀，1976年生，籍贯江西南昌市，博士，教授，九三学社，校学术委员会成员，美国UTD大学访问学者，上海协同与服务专委会成员。2011年3月博士毕业于上海大学计算机科学与工程专业，主要研究方向：软件工程、软件测试、大数据处理和人工智能研究；现任上海商学院商务信息学院计算机科学与技术专业负责人，获得Spark和IEEE软件可靠性认真高级工程师。

主要从事计算机科学与技术专业的教学、科研和日常管理工作。主讲课程有《程序设计基础》、《软件测试》、《高级程序设计》、《大数据处理与分析》、《数据结构》和《操作系统》等。历年来主持和参与完成省部级以上科研类课题10余项，省部级以上教学类课题10项，是上海市一流本科课程《大数据处理与分析》和上海市一流本科专业（计算机科学与技术）负责人。

联系方式：

[1] 办公室：奉贤区奉浦大道123号行政楼518室

[2] 电话：67105493

[3] Email：liup@sbs.edu.cn

主要教学奖项：

[1] 2010年，上海大学校长奖学金；

[2] 2012年，上海商学院青年教师教学基本功大赛，一等奖；

[3] 2014年，上海市首届青年教师讲课比赛，二等奖；

[4] 2014年，上海商学院十佳优秀教师；

[5] 2020年，上海商学院教学标兵；

[6] 2021年，上海商学院优秀教师；

[7] 2021年，上海商学院教学成果一等奖和二等奖各一次；

主要教科研成果：

[1] Liu P, Li Y, Miao H. Transition Algebra for Software Testing[J]. IEEE Transactions on Reliability, 2021, 70(4): 1438-1454. （top期刊）

[2] Liu P, Yan J, Song X. Three Classifications of Big Data-based Software Testing[C]//2021 8th International Conference on Dependable Systems and Their Applications (DSA). IEEE, 2021: 751-752.

[3] Liu P, Li Y, Chen H, et al. An Improved Test Tree Generation Algorithm from a Graphical Model[C]//2021 7th International Symposium on System and Software Reliability (ISSSR). IEEE, 2021: 206-211.

[4] Liu P, Li Y, Zeng L, et al. Big Data-based Testing: Characteristics, Challenges, and Future Directions[C]//2021 7th International Symposium on System and Software Reliability (ISSSR). IEEE, 2021: 44-49.

[5] Li Y, Liu P*, Zhao X, et al. Evaluating the Fault-Focused Clustering Performance of Distance Metrics in Parallel Fault Localization: From an Omniscient Perspective[C]//2021 7th International Symposium on System and Software Reliability (ISSSR). IEEE, 2021: 1-10.

[6] Liu P, Huang W. Incremental Data Mining-based Software Failure Detection[J]. International Journal of Performability Engineering, 2020, 16(8).

国家发明专利：

[1] 一种计算机多进程公平调度的方法，专利号：ZL 201310567625.1，第一发明人

[2] 一种奖有限自动机中的循环转换为正则表达式的方法，申请号：201510759945.6，第一发明人

[3] 通过智能合约实现代币池多账户流处理的方法与装置,申请号：202110511713.4，第一发明人

[4] 基于云计算的软件测试环境动态生产系统及实训方法，专利号：ZL 201210162008.9，第四发明人

国际专利：

[1] A Method for Converting the Cycle in Finite Automata Machine into Regular Expression，Patent number: 2020101529，First Author